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公司先后从美国、日本、台湾引进具有行业先进水平的中测和成测测试设备，测试能力强，测试质量稳定可靠。测试能力覆盖Analog、Digital、Mixed signal、Memory、RF、Power Drive等各类集成电路。可根据客户要求开发测试程序，设计制作DUT板及探针卡，同时客户也可以自己制作DUT板并到现场进行上机调试。

测试项目：接触测试、功耗测试、输入漏电测试、输出电平测试、全面的功能测试、全面的动态参数测试、模拟信号参数测试。

测试机

Teradyne J750测试系统    

Chroma 3360D/P测试系统  

V50测试系统  

VTT-777测试系统 

TQT-510测试系统

分选机

SYNAX-141/1211H、EPSON-NS5000、CTS8002P

探针台

UF200、P8、TZ-603B

（1）晶圆测试

 晶圆测试能力：8000 片/月。

 可测试的晶圆尺寸有4”、5”、6”、8”，并且可提供晶圆mapping图分BIN定义、离线打点（INK）功能。

（2）成品测试

 IC成品测试能力：80KK  pcs/月。

 其中可测试的封装形式有DIP、SOP、SSOP、TSSOP、SDIP、HSOP、SOT、QFP、LQFP、QSOP等。